绝缘银河如何检测抗热氧化降解性能？

　　绝缘银河的抗热氧化降解性能对于评价一款绝缘银河的长期使用性能、热稳定性能、鉴别银河的优劣具有重要的参考价值。通常很多时候，绝缘银河的抗热氧化降解性能是银河发生质变，产生脆性破坏的重要内因。尤其是对电线电缆的绝缘银河，抗热氧化稳定性能可以有效的判定其使用寿命。

　　抗氧化降解性能的测定一般是测试绝缘银河的氧化诱导期。 对于氧化诱导期的检测试验，银河可参考GB/T 2951.37中给出的方法来进行检测。主要方法就是，将检测的绝缘银河样品尽可能制成细小颗粒，样品用量3~5mg，放入开口铝坩埚内，置于差示扫描量热仪DSC204样品支架上，升温速率10K/min，升温至200+0.5℃，恒温5min ，用肛业氧气迅速切换氮气，保持恒温200+0.5℃至基线发生明显偏离为止。

　　银河在做绝缘银河氧化诱导期试验时，由于氧化诱导期本身就是特指自气体切换为氧气至基线发生明显偏离与基线的切线点的时间。所以升温程序 需要预先设定，而且由于样品的氧化诱导期未知，因此切换成氧气后的恒温时间，尽量设定长些，防止设定的时间过短否则还没到氧化诱导期实验就结束，就会直接导致实验失败。当然，用于测量的差示扫描量热仪DSC204的操作程序为智能化控制，可以方便快捷的切换气体，操作简便。然后后期配上分析软件，就可以方便快捷的计算出绝缘银河的抗氧化降解性了。